Titre :	Atomic force microscopy : Understanding basic modes and advanced applications
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	Greg Haugstad
Editeur :	Hoboken : John Wiley & Sons
Année de publication :	2012
Importance :	xxii, 464 p.
Présentation :	ill.
Format :	25 cm
ISBN/ISSN/EAN :	978-0-470-63882-8
Langues :	Anglais (eng)
Catégories :	Technologies, Méthodes, Réactions
Tags :	ATOMIC FORCE MICROSCOPY
Index. décimale :	B-B
Résumé :	"This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions."
Cote :	B-B186 (SdS)
Num_Inv :	3209

Atomic force microscopy : Understanding basic modes and advanced applications [texte imprimé] / Greg Haugstad . - Hoboken : John Wiley & Sons, 2012 . - xxii, 464 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN : 978-0-470-63882-8
Langues : Anglais (eng)

Catégories :	Technologies, Méthodes, Réactions
Tags :	ATOMIC FORCE MICROSCOPY
Index. décimale :	B-B
Résumé :	"This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions."
Cote :	B-B186 (SdS)
Num_Inv :	3209