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Atomic force microscopy / Peter Eaton

Public ISBD Titre : Atomic force microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : Peter Eaton ; Paul West Editeur : Oxford : Oxford University Press Année de publication : 2010 Importance : viii, 248 p. Présentation : ill. en noir et en coul. Format : 26 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-19-957045-4 Langues : Anglais (eng) Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : ATOMIC FORCE MICROSCOPY Index. décimale : B-B Résumé : "Atomic force microscopy is an amazing technique that allies a versatile methodology (that allows measurement of samples in liquid, vacuum or air) to imaging with unprecedented resolution. But it goes one step further than conventional microscopic techniques; it allows us to make measurements of magnetic, electrical or mechanical properties of the widest possible range of samples, with nanometre resolution. This book will demystify AFM for the reader, making it easy to understand, and to use. It is written by authors who together have more than 30 years experience in the design, construction and use of AFMs and will explain why the microscopes are made the way they are, how they should be used, what data they can produce, and what can be done with the data. Illustrative examples from the physical sciences, materials science, life sciences, nanotechnology and industry illustrate the different capabilities of the technique." Cote : B-B188 (SdS) Num_Inv : 3221 Atomic force microscopy [texte imprimé] / Peter Eaton ; Paul West . - Oxford : Oxford University Press, 2010 . - viii, 248 p. : ill. en noir et en coul. ; 26 cm. ISBN : 978-0-19-957045-4 Langues : Anglais (eng) Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : ATOMIC FORCE MICROSCOPY Index. décimale : B-B Résumé : "Atomic force microscopy is an amazing technique that allies a versatile methodology (that allows measurement of samples in liquid, vacuum or air) to imaging with unprecedented resolution. But it goes one step further than conventional microscopic techniques; it allows us to make measurements of magnetic, electrical or mechanical properties of the widest possible range of samples, with nanometre resolution. This book will demystify AFM for the reader, making it easy to understand, and to use. It is written by authors who together have more than 30 years experience in the design, construction and use of AFMs and will explain why the microscopes are made the way they are, how they should be used, what data they can produce, and what can be done with the data. Illustrative examples from the physical sciences, materials science, life sciences, nanotechnology and industry illustrate the different capabilities of the technique." Cote : B-B188 (SdS) Num_Inv : 3221

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Atomic force microscopy / Greg Haugstad

Public ISBD Titre : Atomic force microscopy : Understanding basic modes and advanced applications Type de document : texte imprimé Auteurs : Greg Haugstad Editeur : Hoboken : John Wiley & Sons Année de publication : 2012 Importance : xxii, 464 p. Présentation : ill. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-470-63882-8 Langues : Anglais (eng) Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : ATOMIC FORCE MICROSCOPY Index. décimale : B-B Résumé : "This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions." Cote : B-B186 (SdS) Num_Inv : 3209 Atomic force microscopy : Understanding basic modes and advanced applications [texte imprimé] / Greg Haugstad . - Hoboken : John Wiley & Sons, 2012 . - xxii, 464 p. : ill. ; 25 cm. ISBN : 978-0-470-63882-8 Langues : Anglais (eng) Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : ATOMIC FORCE MICROSCOPY Index. décimale : B-B Résumé : "This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions." Cote : B-B186 (SdS) Num_Inv : 3209

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AFM Express: Guide pratique pour la microscopie à force atomique - exploration du « nanoMonde » / Grégory Francius

Public ISBD Titre : AFM Express: Guide pratique pour la microscopie à force atomique - exploration du « nanoMonde » Type de document : texte imprimé Auteurs : Grégory Francius, Éditeur scientifique Editeur : Nancy : Presses universitaires de Nancy Année de publication : 2011 Collection : Les Cahiers de l'École Doctorale Lorraine de Chimie et Physique Moléculaires Importance : 38 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-8143-0087-3 Langues : Français (fre) Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE  ATOMIC FORCE MICROSCOPY  AFM Index. décimale : B-B Résumé : "L'AFM (Microscopie à Force Atomique) est un outil d'investigation performant et multifonctionnel qui, de par l'intérêt qu’il a suscité au sein de la communauté scientifique, a connu un essor important ces dernières années. L’application la plus connue est sans aucun doute l’imagerie à haute résolution qui permet de visualiser des nano-objets et matériaux à l’échelle moléculaire. Par ailleurs, la spectroscopie de force (l’une des variantes de l’AFM) est devenue la technique de référence pour caractériser, à l’échelle locale, les propriétés physico-chimiques des matériaux." Cote : B-B196 (SdS) Num_Inv : 3306 AFM Express: Guide pratique pour la microscopie à force atomique - exploration du « nanoMonde » [texte imprimé] / Grégory Francius, Éditeur scientifique . - Nancy : Presses universitaires de Nancy, 2011 . - 38 p.. - (Les Cahiers de l'École Doctorale Lorraine de Chimie et Physique Moléculaires) . ISBN : 978-2-8143-0087-3 Langues : Français (fre) Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE  ATOMIC FORCE MICROSCOPY  AFM Index. décimale : B-B Résumé : "L'AFM (Microscopie à Force Atomique) est un outil d'investigation performant et multifonctionnel qui, de par l'intérêt qu’il a suscité au sein de la communauté scientifique, a connu un essor important ces dernières années. L’application la plus connue est sans aucun doute l’imagerie à haute résolution qui permet de visualiser des nano-objets et matériaux à l’échelle moléculaire. Par ailleurs, la spectroscopie de force (l’une des variantes de l’AFM) est devenue la technique de référence pour caractériser, à l’échelle locale, les propriétés physico-chimiques des matériaux." Cote : B-B196 (SdS) Num_Inv : 3306

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3306	B-B196	Texte imprimé	Bibliothèque	Livre	Disponible

Nanomécanique par microscopie à force atomique en mode contact vibrant : microscopie à force atomique en mode contact vibrant et application à l'étude des propriétés élastiques à l'échelle nanométrique / Richard Arinero

Public ISBD Titre : Nanomécanique par microscopie à force atomique en mode contact vibrant : microscopie à force atomique en mode contact vibrant et application à l'étude des propriétés élastiques à l'échelle nanométrique Type de document : texte imprimé Auteurs : Richard Arinero Editeur : Sarrebruck : Editions Universitaires Européennes Année de publication : 2010 ISBN/ISSN/EAN : 978-613-1-50229-3 Note générale : Thèse de l'Université Montpellier II Sciences et Techniques du Languedoc, soutenue le 11 décembre 2003 ; Spécialité : Milieux denses et matériaux ; Formation doctorale : Physique de la matière condensée ; Ecole doctorale : Matière condensée. Langues : Français (fre) Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE  ATOMIC FORCE MICROSCOPY  AFM Index. décimale : B-B Résumé : "La microscopie a force atomique (AFM) en mode contact vibrant est sensible aux propriétés élastiques des matériaux. L'objectif de ce travail est d'obtenir des informations quantitatives (les modules élastiques) à partir des images AFM. La partie théorique consiste en une mise en équation de la mécanique du levier et en l'étude des déformations élastiques du système pointe-échantillon. D'un point de vue expérimental, la réussite de notre approche provient de l'excitation des leviers par une force électrostatique, et d'un étalonnage de la fréquence de résonance sur des matériaux aux propriétés connues. Nous avons appliqué les méthodes précédentes pour mesurer l'élasticité des constituants sub-microscopiques de la paroi cellulaire du bois. Par un traitement mathématique des images AFM obtenues à une fréquence unique, nous avons développé une méthode qui donne directement des images de l'élasticité absolue et des pertes visqueuses." Cote : B-B194 (SdS) Num_Inv : 3300 Nanomécanique par microscopie à force atomique en mode contact vibrant : microscopie à force atomique en mode contact vibrant et application à l'étude des propriétés élastiques à l'échelle nanométrique [texte imprimé] / Richard Arinero . - Sarrebruck : Editions Universitaires Européennes, 2010. ISBN : 978-613-1-50229-3 Thèse de l'Université Montpellier II Sciences et Techniques du Languedoc, soutenue le 11 décembre 2003 ; Spécialité : Milieux denses et matériaux ; Formation doctorale : Physique de la matière condensée ; Ecole doctorale : Matière condensée. Langues : Français (fre) Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE  ATOMIC FORCE MICROSCOPY  AFM Index. décimale : B-B Résumé : "La microscopie a force atomique (AFM) en mode contact vibrant est sensible aux propriétés élastiques des matériaux. L'objectif de ce travail est d'obtenir des informations quantitatives (les modules élastiques) à partir des images AFM. La partie théorique consiste en une mise en équation de la mécanique du levier et en l'étude des déformations élastiques du système pointe-échantillon. D'un point de vue expérimental, la réussite de notre approche provient de l'excitation des leviers par une force électrostatique, et d'un étalonnage de la fréquence de résonance sur des matériaux aux propriétés connues. Nous avons appliqué les méthodes précédentes pour mesurer l'élasticité des constituants sub-microscopiques de la paroi cellulaire du bois. Par un traitement mathématique des images AFM obtenues à une fréquence unique, nous avons développé une méthode qui donne directement des images de l'élasticité absolue et des pertes visqueuses." Cote : B-B194 (SdS) Num_Inv : 3300

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3300	B-B194	Texte imprimé	Bibliothèque	Livre	Disponible