Atomic force microscopy / Greg Haugstad

Public ISBD Titre : Atomic force microscopy : Understanding basic modes and advanced applications Type de document : texte imprimé Auteurs : Greg Haugstad Editeur : Hoboken : John Wiley & Sons Année de publication : 2012 Importance : xxii, 464 p. Présentation : ill. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-470-63882-8 Langues : Anglais (eng) Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : ATOMIC FORCE MICROSCOPY Index. décimale : B-B Résumé : "This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions." Cote : B-B186 (SdS) Num_Inv : 3209 Atomic force microscopy : Understanding basic modes and advanced applications [texte imprimé] / Greg Haugstad . - Hoboken : John Wiley & Sons, 2012 . - xxii, 464 p. : ill. ; 25 cm. ISBN : 978-0-470-63882-8 Langues : Anglais (eng) Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : ATOMIC FORCE MICROSCOPY Index. décimale : B-B Résumé : "This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions." Cote : B-B186 (SdS) Num_Inv : 3209

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
3209	B-B186	Texte imprimé	Bibliothèque	Livre	Emprunté Disponible

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