Nanomécanique par microscopie à force atomique en mode contact vibrant : microscopie à force atomique en mode contact vibrant et application à l'étude des propriétés élastiques à l'échelle nanométrique / Richard Arinero

Public ISBD Titre : Nanomécanique par microscopie à force atomique en mode contact vibrant : microscopie à force atomique en mode contact vibrant et application à l'étude des propriétés élastiques à l'échelle nanométrique Type de document : texte imprimé Auteurs : Richard Arinero Editeur : Sarrebruck : Editions Universitaires Européennes Année de publication : 2010 ISBN/ISSN/EAN : 978-613-1-50229-3 Note générale : Thèse de l'Université Montpellier II Sciences et Techniques du Languedoc, soutenue le 11 décembre 2003 ; Spécialité : Milieux denses et matériaux ; Formation doctorale : Physique de la matière condensée ; Ecole doctorale : Matière condensée. Langues : Français (fre) Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE  ATOMIC FORCE MICROSCOPY  AFM Index. décimale : B-B Résumé : "La microscopie a force atomique (AFM) en mode contact vibrant est sensible aux propriétés élastiques des matériaux. L'objectif de ce travail est d'obtenir des informations quantitatives (les modules élastiques) à partir des images AFM. La partie théorique consiste en une mise en équation de la mécanique du levier et en l'étude des déformations élastiques du système pointe-échantillon. D'un point de vue expérimental, la réussite de notre approche provient de l'excitation des leviers par une force électrostatique, et d'un étalonnage de la fréquence de résonance sur des matériaux aux propriétés connues. Nous avons appliqué les méthodes précédentes pour mesurer l'élasticité des constituants sub-microscopiques de la paroi cellulaire du bois. Par un traitement mathématique des images AFM obtenues à une fréquence unique, nous avons développé une méthode qui donne directement des images de l'élasticité absolue et des pertes visqueuses." Cote : B-B194 (SdS) Num_Inv : 3300 Nanomécanique par microscopie à force atomique en mode contact vibrant : microscopie à force atomique en mode contact vibrant et application à l'étude des propriétés élastiques à l'échelle nanométrique [texte imprimé] / Richard Arinero . - Sarrebruck : Editions Universitaires Européennes, 2010. ISBN : 978-613-1-50229-3 Thèse de l'Université Montpellier II Sciences et Techniques du Languedoc, soutenue le 11 décembre 2003 ; Spécialité : Milieux denses et matériaux ; Formation doctorale : Physique de la matière condensée ; Ecole doctorale : Matière condensée. Langues : Français (fre) Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE  ATOMIC FORCE MICROSCOPY  AFM Index. décimale : B-B Résumé : "La microscopie a force atomique (AFM) en mode contact vibrant est sensible aux propriétés élastiques des matériaux. L'objectif de ce travail est d'obtenir des informations quantitatives (les modules élastiques) à partir des images AFM. La partie théorique consiste en une mise en équation de la mécanique du levier et en l'étude des déformations élastiques du système pointe-échantillon. D'un point de vue expérimental, la réussite de notre approche provient de l'excitation des leviers par une force électrostatique, et d'un étalonnage de la fréquence de résonance sur des matériaux aux propriétés connues. Nous avons appliqué les méthodes précédentes pour mesurer l'élasticité des constituants sub-microscopiques de la paroi cellulaire du bois. Par un traitement mathématique des images AFM obtenues à une fréquence unique, nous avons développé une méthode qui donne directement des images de l'élasticité absolue et des pertes visqueuses." Cote : B-B194 (SdS) Num_Inv : 3300

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3300	B-B194	Texte imprimé	Bibliothèque	Livre	Disponible

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