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AFM Express: Guide pratique pour la microscopie à force atomique - exploration du « nanoMonde » / Grégory Francius
Titre : AFM Express: Guide pratique pour la microscopie à force atomique - exploration du « nanoMonde » Type de document : texte imprimé Auteurs : Grégory Francius, Éditeur scientifique Editeur : Nancy : Presses universitaires de Nancy Année de publication : 2011 Collection : Les Cahiers de l'École Doctorale Lorraine de Chimie et Physique Moléculaires Importance : 38 p. ISBN/ISSN/EAN : 978-2-8143-0087-3 Langues : Français (fre) Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM Index. décimale : B-B Résumé : "L'AFM (Microscopie à Force Atomique) est un outil d'investigation performant et multifonctionnel qui, de par l'intérêt qu’il a suscité au sein de la communauté scientifique, a connu un essor important ces dernières années. L’application la plus connue est sans aucun doute l’imagerie à haute résolution qui permet de visualiser des nano-objets et matériaux à l’échelle moléculaire. Par ailleurs, la spectroscopie de force (l’une des variantes de l’AFM) est devenue la technique de référence pour caractériser, à l’échelle locale, les propriétés physico-chimiques des matériaux." Cote : B-B196 (SdS) Num_Inv : 3306 AFM Express: Guide pratique pour la microscopie à force atomique - exploration du « nanoMonde » [texte imprimé] / Grégory Francius, Éditeur scientifique . - Nancy : Presses universitaires de Nancy, 2011 . - 38 p.. - (Les Cahiers de l'École Doctorale Lorraine de Chimie et Physique Moléculaires) .
ISBN : 978-2-8143-0087-3
Langues : Français (fre)
Catégories : Technologies, Méthodes, Réactions Tags : MICROSCOPIE A FORCE ATOMIQUE ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM Index. décimale : B-B Résumé : "L'AFM (Microscopie à Force Atomique) est un outil d'investigation performant et multifonctionnel qui, de par l'intérêt qu’il a suscité au sein de la communauté scientifique, a connu un essor important ces dernières années. L’application la plus connue est sans aucun doute l’imagerie à haute résolution qui permet de visualiser des nano-objets et matériaux à l’échelle moléculaire. Par ailleurs, la spectroscopie de force (l’une des variantes de l’AFM) est devenue la technique de référence pour caractériser, à l’échelle locale, les propriétés physico-chimiques des matériaux." Cote : B-B196 (SdS) Num_Inv : 3306 Exemplaires(1)
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